Akademie für Elektronen-mikroskopie und Analytik gemeinnützige GmbH

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Lehrgang EDX-WDX

Energie- (EDX) und wellenlängendispersive (WDX) Röntgenmikrobereichsanalyse in der Elektronenmikroskopie mit einer Einführung in oberflächenanalytische Verfahren: XPS und ToF-SIMS

Inhalt

Ein großer Vorteil der Rasterelektronenmikroskopie liegt in den Möglichkeiten der Analyse von Elementen mittels energie- oder wellenlängendispersiver Röntgenmikrobereichsanalyse. Diese analytischen Methoden werden durch Vorträge und durch Demonstrationen an Analysesystemen dargestellt.
Der Lehrgang baut inhaltlich auf den im Lehrgang R-3 vermittelten EDX-Kenntnissen auf und setzt die Kenntnisse des dort vermittelten Stoffs voraus.

Ein Schwerpunkt dieses Lehrgangs ist die Vermittlung von Grundlagen und Erfahrungen der quantitativen energie- und wellenlängendispersiven Röntgenmikrobereichsanalyse.
Weiterhin wird der neueste Stand der Gerätetechnik und der Programme vermittelt. Vorträge über Anwendungen der Mikrobereichsanalyse weisen auf die vielfältigen Möglichkeiten dieser Analysetechnik hin.Das Spektrum der analytischen Möglichkeiten wird durch den Vergleich mit anderen oberflächenanalytischen Methoden erweitert.


In Demonstrationen und freien Übungen können Ihre analytischen Fragen und Probleme theoretisch und praktisch behandelt werden.

Programm Lehrgang EDX/WDX

  • Energiedispersive Röntgenspektrometer für die Elektronenstrahl-Mikrobereichsanalyse
  • Qualitative Elektronenstrahl-Mikrobereichsanalyse mittels REM/EDX
  • Wellenlängendispersive Systeme bei der Elektronenstrahl-Röntgenmikrobereichsanalyse
  • Quantitative Elektronenstrahl-Röntgenmikrobereichsanalyse
  • Röntgenmikrobereichsanalyse in der Mineralogie, Geologie und den Materialwissenschaften (Keramik, Baustoffe)
  • EDX und WDX für die Analyse metallischer Werkstoffe
  • Röntgenmikrobereichsanalyse in Medizin und Biologie
  • Röntgenmikrobereichsanalyse leichter Elemente (z.B. Li)
  • Röntgenmikrobereichsanalyse von sehr kleinen Volumen und von dünnen Schichten
  • Simulation von EDX-Spektren
  • Demonstrationen von EDX-, WDX-Systemen
  • Firmen stellen vor: neue Entwicklungen in der EDX/WDX-Analytik
  • Einführung in die oberflächenanalytischen Methoden (Auger, XPS (ESCA), SIMS) im Vergleich zur EDX

Arbeitsunterlagen werden zur Verfügung gestellt. Über die Teilnahme an diesem Lehrgang wird eine Bescheinigung ausgestellt.

Zielgruppe

Wissenschaftliche und technische Mitarbeiter aus Industrie, Forschungseinrichtungen, Hochschulen oder Behörden, die ihre Kenntnisse und praktischen Erfahrungen über Anwendungen in allen Bereichen der Röntgenmikrobereichsanalyse vertiefen und erweitern und zusätzlich Informationen über oberflächenanalytische Analyseverfahren erwerben wollen.

Lehrgangsleitung

Priv.Doz. Dr. P.F. Schmidt

Termin

12.11.2018 - 14.11.2018
Montag – Mittwoch: 08:30 - 13:00 Uhr und 14:00 - 17:30 Uhr

Veranstaltungsort

Technologiehof Münster
Mendelstr. 11
48149 Münster

Kosten

1.480,- EUR (mehrwertsteuerfrei) Die Teilnahmegebühr schließt ein: Lehrgangsunterlagen, Mittagessen, Pausengetränke, ein gemeinsames Abendessen

Veranstalter

Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gemeinnützige GmbH



Anmeldung

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  • Priv.- Doz. Dr. P. F. Schmidt
  • Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gGmbH
  • Röntgenstraße 23
  • 48149 Münster
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  • Tel.: 0251/83-55112 oder 0251/83-55149
  • Fax: 0251/83-55188
  • Mail: pfschmi@uni-muenster.de

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Bei der Anmeldung für die REM-Lehrgänge geben Sie bitte den Typ des REM und des EDX-Analysengerätes an, an dem Sie arbeiten oder arbeiten werden. Geben Sie ebenfalls den Schwerpunkt Ihrer Arbeitsrichtung an. Diese Angabe benötigen wir für die Einteilung in die Arbeitsgruppen.

Nähere Informationen zum Lehrgang (Bestätigung, genaue Ortsangabe und Rechnung) gehen Ihnen nach Ihrer Anmeldung zu.

Programmänderungen bleiben vorbehalten. Für Schäden oder Verluste im Zusammenhang mit der Lehrgangsabwicklung wird keine Haftung übernommen. Kommt der Lehrgang nicht zustande, wird die gezahlte Teilnahmegebühr erstattet, weitergehende Ansprüche sind ausgeschlossen.



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